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SEM原位冷熱臺(tái)是一款專為掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)的高性能變溫測(cè)試附件,無(wú)需對(duì)電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行任何改造,即可實(shí)現(xiàn)樣品的原位變溫實(shí)驗(yàn)。該裝置通過(guò)定制外接法蘭與電鏡腔體連接,配合專項(xiàng)溫控軟件,可對(duì)樣品進(jìn)行精確加熱與制冷,適用于多種材料在變溫過(guò)程中的微觀結(jié)構(gòu)研究。其法蘭接口可根據(jù)現(xiàn)有主流掃描電鏡型號(hào)(如蔡司、國(guó)儀量子、惠然等)進(jìn)行定制,確保與不同品牌設(shè)備的高度適配。
光學(xué)熱臺(tái)是研究材料在變溫環(huán)境下光學(xué)性能的重要設(shè)備,在材料科學(xué)、半導(dǎo)體物理、光電器件、納米技術(shù)、生物光子學(xué)及礦物學(xué)等領(lǐng)域具有普遍應(yīng)用。它能夠在精確控制樣品溫度的同時(shí),實(shí)時(shí)表征其光學(xué)特性,如顯微圖像、熒光光譜、拉曼光譜、X射線衍射及發(fā)光效率等。
OLED變溫測(cè)試?yán)錈崤_(tái)氣密腔室(氮?dú)獗Wo(hù)),上蓋適配光電二極管傳感器,控溫速度:0~10℃/min(程序段控溫時(shí)),2個(gè)探針、2個(gè)BNC接口。
XRD原位熱臺(tái)是一款專為X射線衍射儀設(shè)計(jì)的高精度變溫附件,適用于粉末或片狀樣品在變溫條件下的結(jié)構(gòu)分析,可依據(jù)用戶現(xiàn)有設(shè)備型號(hào)(如布魯克、賽默飛、理學(xué)等主流X射線衍射儀)定制適配樣品架。其作為一款專為X射線衍射分析開(kāi)發(fā)的原位裝置,能夠精確調(diào)控溫度、力學(xué)等多物理場(chǎng)耦合條件,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料在復(fù)雜環(huán)境下的結(jié)構(gòu)演變,具備優(yōu)異的適配性與擴(kuò)展性,滿足多樣化科研需求。
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